Patent nr 10 2004 024 237

Sonda otworowa gęstościowego profilowania gamma-gamma

Patent przyznany za opracowanie sondy gamma-gamma, która ze względu na układ źródła i detektora promieniowania poprzecznie do osi otworu, służy w szczególności do pomiaru otworów wielkokalibrowych oraz w znacznym stopniu mniej wrażliwie reaguje na zmiany średnicy otworu w porównaniu do konwencjonalnych sond.